菲希尔膜厚仪
德国菲希尔XDL X-RAY光谱膜厚仪,是发展继承其前身FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B系列,其非破坏式的测量,特别适合五金的金属镀层厚度,测量快速、精确、无损.如一些五金零件、电路板及测量电镀槽中的金离子的含量。菲希尔XDL X-RAY光谱膜厚仪,采用了高次数率的比例接收器,可以在没有标准片的情况下,对金属五金件的镀层厚度及电镀液中的离子含量做出精确的测量,另外在WINFTM BASIC 软件的支持下,可测量多至24元素,这是其他品牌所不能的。菲希尔XDL X-RAY光谱膜厚仪的长期稳定性是十分高的,这使仪器减少校正所需要的时间及次数,便于管理仪器,并提高生产效率.应用范围广泛,包括了测量大量的电镀五金件、检查薄膜层(如:装饰性铬的镀层)、在电子及半导体行业中分析其功能性的镀层、可用于电路板测量、电镀槽中的药水成份分析,已成为被广泛应用的自动测定涂镀层厚度的专用仪器。
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常见问题
因为X荧光原理决定的,X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量,而对其的化合状态无法判别,所以,六价铬、PBB和PBDE的含量无法检测。
原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数据换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。
六价铬、镉、汞、铅、多溴联苯和多溴联苯醚
六价铬是1000ppm、镉是100ppm、汞是1000ppm、铅是1000ppm、多溴联苯是1000ppm、多溴联苯醚是1000ppm。
可做ROHS检测、各种材料的全元素分析和测金属的镀层厚度。
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