X荧光镀层测厚仪的特征以及功能和应用!
- 分类:分析仪器资讯
- 发布时间:2022-08-12 11:14
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【概要描述】X荧光镀层测厚仪,相信很多人都了解过,不过其实也有很多人不太清楚X荧光镀层测厚仪的特征以及功能和应用,下面就来简单的讲解一下!
X荧光镀层测厚仪的特征以及功能和应用!
【概要描述】X荧光镀层测厚仪,相信很多人都了解过,不过其实也有很多人不太清楚X荧光镀层测厚仪的特征以及功能和应用,下面就来简单的讲解一下!
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X荧光镀层测厚仪,相信很多人都了解过,不过其实也有很多人不太清楚X荧光镀层测厚仪的特征以及功能和应用,下面就来简单的讲解一下!
一、X荧光镀层测厚仪的特征:
1、操作非常简单。
2、使用激光对焦功能,轻松调整位置。
3、对于不平整的样品,还安装了可靠的防撞传感器。
4、配备焦点切换机构,可测量高样品的低部分。 (任意选择)
5、采用窄间隙机构,可测量大型印刷承印物。
二、X荧光镀层测厚仪的功能:
可测元素:原子序数22(Ti)~92(U);X射线源:小型风冷X射线管 管电压:45kV 管电流:1mA Be window;过滤器:初级过滤器:自动切换二级过滤器:自动切换;检测器:比例计数管;准直器:方形:0.2×0.05mm 0.05×0.02mm;圆形:Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm;安全性能:配备样品门联锁和防撞功能;样品图像对焦方式:激光自动对焦;样品观察:CCD固定倍率,卤素灯照明可选:倍率切换(最大130倍);校正功能:基材校正、已知样品校正、手动输入校正;测量报告的制作:配备MS-EXCEL? MS-WORD? (使用宏支持自动生成测量报告) 测量能谱和样品图像保存功能;新型薄膜 EP 方法;降低校准曲线制作的复杂性,简化测量条件的设置;无标测量法可测量多达5层的膜厚;自动对焦功能和距离校正功能;滴落不均的样品,可采用与薄膜 EP 法相同的测量条件进行测量;增加灵敏度;镀层测量时间比公司原有机型缩短1/2;生成报告功能。
三、X荧光镀层测厚仪的应用领域
1、金、铂、银等贵金属及各种首饰的含量检测。
2、金属镀层的厚度测量,镀液和镀层含量的测定。
3、主要用于贵金属加工和珠宝加工行业; 银行、珠宝销售和检测机构; 电镀行业。
4、X荧光镀层测厚仪可用于大范围样品观察
5、X荧光镀层测厚仪对放置在测量平台(250mm*200mm)上的样品进行静态图像拍摄后,可以在获得的广域观察图像上指定窄区域的观察位置。 因此,可以大大减少大多数测量点位置的选择时间,以及图像上难以找到的特定点位置的选择时间。
以上是关于X荧光镀层测厚仪特征以及功能和应用,仅供参考,如有该仪器需求,可在线留言或电话咨询X荧光镀层测厚仪厂家-德谱!
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是的!对于rohs2.0检测项目来说,是必须要有两台仪器才能完成,单纯一台仪器是不可能实现的。即使用一台仪器测试重金属元素含量,另外一台测试化合物!
欧盟在其官方公报上发布指令(EU)2015/863,修订了RoHS2.0指令2011/65/EU附件Ⅱ的限制物质清单,加入四种邻苯二甲酸酯物质:邻苯二甲酸二(2-乙基已)酯(DEHP),邻苯二甲酸二丁酯(DBP),邻苯二甲酸丁苄酯(BBP)和邻苯二甲酸二异丁酯(DIBP)。至此,ROHS2.0指令附件II受限物质清单正式更新为10项。即rohs2.0也为rohs十项!
铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚(注意:PBDE正确的中文名称是指多溴二苯醚,多溴联苯醚是错误的说法),共6项物质,并重点规定了铅的含量不能超过0.1%。主要测的是重金属元素!同时rohs1.0也指的是rohs六项!