X荧光镀层测厚仪，相信很多人都了解过，不过其实也有很多人不太清楚X荧光镀层测厚仪的特征以及功能和应用，下面就来简单的讲解一下！

一、X荧光镀层测厚仪的特征：

1、操作非常简单。

2、使用激光对焦功能，轻松调整位置。

3、对于不平整的样品，还安装了可靠的防撞传感器。

4、配备焦点切换机构，可测量高样品的低部分。  （任意选择）

5、采用窄间隙机构，可测量大型印刷承印物。

二、X荧光镀层测厚仪的功能：

可测元素：原子序数22(Ti)～92(U)；X射线源：小型风冷X射线管 管电压：45kV 管电流：1mA Be window；过滤器：初级过滤器：自动切换二级过滤器：自动切换；检测器：比例计数管；准直器：方形：0.2×0.05mm 0.05×0.02mm；圆形：Φ0.1mm Φ0.2mm Φ0.3mm；安全性能：配备样品门联锁和防撞功能；样品图像对焦方式：激光自动对焦；样品观察：CCD固定倍率，卤素灯照明可选：倍率切换（最大130倍）；校正功能：基材校正、已知样品校正、手动输入校正；测量报告的制作：配备MS-EXCEL？  MS-WORD？  （使用宏支持自动生成测量报告） 测量能谱和样品图像保存功能；新型薄膜 EP 方法；降低校准曲线制作的复杂性，简化测量条件的设置；无标测量法可测量多达5层的膜厚；自动对焦功能和距离校正功能；滴落不均的样品，可采用与薄膜 EP 法相同的测量条件进行测量；增加灵敏度；镀层测量时间比公司原有机型缩短1/2；生成报告功能。

三、X荧光镀层测厚仪的应用领域

1、金、铂、银等贵金属及各种首饰的含量检测。

2、金属镀层的厚度测量，镀液和镀层含量的测定。

3、主要用于贵金属加工和珠宝加工行业； 银行、珠宝销售和检测机构； 电镀行业。

4、X荧光镀层测厚仪可用于大范围样品观察

5、X荧光镀层测厚仪对放置在测量平台（250mm*200mm）上的样品进行静态图像拍摄后，可以在获得的广域观察图像上指定窄区域的观察位置。 因此，可以大大减少大多数测量点位置的选择时间，以及图像上难以找到的特定点位置的选择时间。

以上是关于X荧光镀层测厚仪特征以及功能和应用，仅供参考，如有该仪器需求，可在线留言或电话咨询X荧光镀层测厚仪厂家-德谱！