X荧光光谱仪是一种简单快捷的判断黄金首饰纯度的方法。 其原理是X射线管（或放射源）产生入射X射线（初级X射线）来激发被测样品，被激发样品中的元素会发出次级X射线，次级X射线 - 不同元素发出的射线具有特定的能量特性或波长特性； 检测系统测量出这些二次X射线的能量和数量，并通过软件直接转换成各种元素的种类和含量。

X荧光光谱仪检测黄金的优点：X荧光光谱仪是目前黄金首饰分析中应用最广泛的方法。 优点是分析速度快，样品不损坏，检测成本低。 目前，利用XRF分析仪进行贵金属的化学成分分析和纯度、颜色判断已成为一种应用广泛且极为流行的方法，符合国家标准GB/T-18043-2008。 与火花法和化学试剂检测相比，使用XRF分析贵金属是一种更快速、更经济的多元素检测方法。  XRF分析仪为用户提供了一种操作简单、性价比高的检测技术：无需将检测工具探入待测样品的材质，也无需损坏待测样品，即可获得样品。 合金化学成分信息，以确定样品的百分比纯度。 内置电脑一体机，无需外接电脑，一键智能分析贵金属含量。 采用Si-pin（美国）进口高精度检测仪，可快速区分千纯金（99.9%）和万纯金（99.99%）。

X荧光光谱仪检测黄金的缺点：由于X射线只能检测首饰表面，是对样品特定点的定性和定量分析，因此要求被测样品具有良好的均匀性，不能夹杂、缠绕 现象。 对于表面镀层较厚、内部掺杂铱、钨等金属的样品的测试，这种方法仍然存在一定的风险，需要用密度法进行整体测试，排除常规镀金。

在传统的小型贵金属首饰样品、包金首饰、镀金首饰等仿品首饰中，此类产品的镀层厚度通常较小，在检测时可以通过结合密度法很容易检测出来。 小样品由钨制成。 黄金比较难，因为钨的熔点和硬度都比黄金高，而且只有手镯、金条、金块、金锭、金塑料等大型产品才能轻松使用 钨或铱作为电镀的基质。 还是包裹，所以典当回收行业的朋友遇到此类样品需要格外小心。 虽然上述方法对于镀有铱或钨的大型镀金样品仍然难以检查，但足以区分大多数常规镀金样品并将潜在风险控制在一定范围内。

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