X荧光镀层测厚仪怎么校正?
- 分类:分析仪器资讯
- 发布时间:2022-07-19 10:08
- 访问量:
【概要描述】X荧光镀层测厚仪是一种检测金属镀层厚度的一种检测分析仪器,我们在使用它的过程中,难免会遇到一些问题,比如说X荧光镀层测厚仪怎么校正的问题,那么今天就这个问题来简单回答一下!
X荧光镀层测厚仪怎么校正?
【概要描述】X荧光镀层测厚仪是一种检测金属镀层厚度的一种检测分析仪器,我们在使用它的过程中,难免会遇到一些问题,比如说X荧光镀层测厚仪怎么校正的问题,那么今天就这个问题来简单回答一下!
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X荧光镀层测厚仪是一种检测金属镀层厚度的一种检测分析仪器,我们在使用它的过程中,难免会遇到一些问题,比如说X荧光镀层测厚仪怎么校正的问题,那么今天就这个问题来简单回答一下!
一、零位校准
(a) 在基板上进行测量,屏幕显示<×.×μm>。
(b) 按键,屏幕显示<0.0>。 校准完成,可以开始测量。
(c) 重复上述步骤 a 和 b 以获得更准确的零点和更高的测量精度。 校零完成后,即可进行测量。
二、两点校准
1、一试片法,本校准法适用于高精度测量和小型工件、淬火钢、合金钢。
(a) 先调零(如上)。
(b) 在厚度约等于待测涂层预期厚度的标准片上进行测量,屏幕显示<×××μm>。
(c) 使用 或 键将读数修正为标准值。 校准完成,可以开始测量。
注意: 1. 即使显示的结果与标准切片值一致,也可以按 或 键,例如按一次。 这适用于所有校准方法。
2、如果想更准确地进行两点校准,可以重复b和c过程,以提高校准的准确性,减少意外误差。
三、两试片法
两个标准板的厚度至少相差三倍。 要测量的覆盖层的厚度应该在两个校准值之间。 这种方法特别适用于粗糙的喷砂表面和高精度测量。
(a) 首先校准零值;
(b) 在较薄的标准片上进行测量,用 或 键修正读数,使其达到标准值;
(c) 对厚样品进行测量后,立即使用 或 键校正读数,使其达到标准值。 校准完成,可以开始测量
以上是关于X荧光镀层测厚仪怎么校正的问题的介绍,如你有该产品需求的,可在线咨询或电话联系我们!
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