镀层测厚仪的测量方法!
- 分类:分析仪器资讯
- 发布时间:2022-07-15 10:46
- 访问量:
【概要描述】随着技术的日益进步,特别是近几年引进微机技术后,X射线镀层测厚仪的使用朝着小型化、智能化、多功能化、高精度和实用化的方向迈出了一大步。 测量的分辨率达到了0.1微米,精度可以达到1%,有了很大的提高。那么镀层测厚仪的测量方法是什么?下面就这个问题来简单说说!
镀层测厚仪的测量方法!
【概要描述】随着技术的日益进步,特别是近几年引进微机技术后,X射线镀层测厚仪的使用朝着小型化、智能化、多功能化、高精度和实用化的方向迈出了一大步。 测量的分辨率达到了0.1微米,精度可以达到1%,有了很大的提高。那么镀层测厚仪的测量方法是什么?下面就这个问题来简单说说!
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随着技术的日益进步,特别是近几年引进微机技术后,X射线镀层测厚仪的使用朝着小型化、智能化、多功能化、高精度和实用化的方向迈出了一大步。 测量的分辨率达到了0.1微米,精度可以达到1%,有了很大的提高。那么镀层测厚仪的测量方法是什么?下面就这个问题来简单说说!
镀层测厚仪是通过样品反射的第二次X射线的强度,将X射线照射在样品上。 测量镀层等金属薄膜的厚度,因为它不接触样品,照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。 同时,测量也可以在10秒到几分钟内完成。
镀层测厚仪的测量方法主要有:楔形切割法、光截取法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁测量法和涡流测量 方法。 还有很多。 其中前五种方法为破坏性检测,测量方法繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是非接触、无损测量,测量范围小。 X 射线法可以测量极薄镀层、双层镀层和合金镀层。 β射线法适用于测量原子序数大于3的镀层和基材。电容法仅用于测量薄导体绝缘镀层的厚度。
镀层测厚仪测量方法:
1、当X射线照射样品时,经过镀层界面后,射线返回的信号发生突变,根据无限厚样品的反馈强度与 理论上相同的材料。 理论上很难测试包含相同元素的两层(信号无法分离)。
2、XRF镀层测厚仪:
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、薄膜测厚仪、薄膜测厚仪、金镍测厚仪、电镀膜测厚仪等。
功能:精确测量金属镀层的厚度。
适用范围:测量镀层、镀层、薄膜、液体的厚度或成分,范围从22(Ti)到92(U)。
以上是关于镀层测厚仪的测量方法介绍,我们镀层测厚已成为加工业和表面工程质量检测的重要环节,是产品达到质量标准的必要手段。 对镀层的厚度有明确的要求。它适用范围广、测量范围广、操作方便、价格低廉,是工业和科研中广泛使用的测厚仪器。如你有该需求,可联系我们!
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德谱RoHS分析仪是测试六价铬、镉、汞、铅、多溴联苯和多溴联苯醚等仪,而德谱RoHS2.0分析仪则增加了领苯四项的功能!
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