随着技术的日益进步，特别是近几年引进微机技术后，X射线镀层测厚仪的使用朝着小型化、智能化、多功能化、高精度和实用化的方向迈出了一大步。 测量的分辨率达到了0.1微米，精度可以达到1%，有了很大的提高。那么镀层测厚仪的测量方法是什么？下面就这个问题来简单说说！

镀层测厚仪是通过样品反射的第二次X射线的强度，将X射线照射在样品上。 测量镀层等金属薄膜的厚度，因为它不接触样品，照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品造成损坏。 同时，测量也可以在10秒到几分钟内完成。

镀层测厚仪的测量方法主要有：楔形切割法、光截取法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线背散射法、电容法、磁测量法和涡流测量 方法。 还有很多。 其中前五种方法为破坏性检测，测量方法繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
  X射线和β射线法是非接触、无损测量，测量范围小。  X 射线法可以测量极薄镀层、双层镀层和合金镀层。  β射线法适用于测量原子序数大于3的镀层和基材。电容法仅用于测量薄导体绝缘镀层的厚度。

镀层测厚仪测量方法：

1、当X射线照射样品时，经过镀层界面后，射线返回的信号发生突变，根据无限厚样品的反馈强度与 理论上相同的材料。 理论上很难测试包含相同元素的两层（信号无法分离）。
2、XRF镀层测厚仪：
俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、薄膜测厚仪、薄膜测厚仪、金镍测厚仪、电镀膜测厚仪等。
功能：精确测量金属镀层的厚度。
适用范围：测量镀层、镀层、薄膜、液体的厚度或成分，范围从22（Ti）到92（U）。

以上是关于镀层测厚仪的测量方法介绍，我们镀层测厚已成为加工业和表面工程质量检测的重要环节，是产品达到质量标准的必要手段。 对镀层的厚度有明确的要求。它适用范围广、测量范围广、操作方便、价格低廉，是工业和科研中广泛使用的测厚仪器。如你有该需求，可联系我们！