x荧光光谱仪测的是什么，相信很多人都想知道，下面由德谱仪器的小编整理了一些资料，可以来了解一下！

我们都知道X射线荧光光谱仪具有重现性好、测量速度快、灵敏度高等特点。 可以分析 F(9) 和 U(92) 之间的所有元素。 样品可以是固体、粉末、熔片、液体等。分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业的样品。 无标准半定量法可以对各种形状的样品进行定性分析，并能给出半定量的结果。 某些样品的结果准确度可以接近定量水平，分析时间短。 薄膜分析软件FP-MULT1可以进行镀层分析和薄膜分析。 测量样品的最大尺寸要求为直径51mm，高度40mm。

仪器类别：0303040903 / 仪器仪表 / 成分分析仪器 / 荧光光度计

指标信息： 1、发射源为Rh靶X射线管，最大电流125mA，电压60kV，最大功率3kW。  2、仪器在真空条件下工作，真空度<13帕斯卡。  3.5个分析晶体可以分析元素周期表F~U之间的所有元素，含量范围为ppm~100% 4.分析软件为Philips（现PANalytical）版软件，可用于半定量和 定量分析。 精度：计算率N=1483870，RSD=0.08%，稳定性计算率Nmax=6134524，Nmin=6115920，N平均=6125704时，相对误差为0.03%

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分析对象主要包括各种磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、钛镍记忆合金、混合稀土成分、贵金属配件及合金等，以及各种样品的无标半定量分析 . 对于小粉末或合金，结果接近定量分析的准确度。  X射线荧光分析速度快，部分样品当天即可出结果。 适用于课题研究和生产监测。

X射线荧光光谱仪分为波长色散、能量色散、非色散X射线荧光、全反射X荧光。

波长色散X射线荧光光谱是利用晶体或人造晶体根据布拉格定律分离出不同能量的谱线，然后进行测量。 波长色散X射线荧光光谱仪一般采用X射线管作为激发源，可分为顺序（或单通道或扫描）光谱仪、同时（或多通道）光谱仪、顺序和同时相位光谱仪。 组合了三种类型的光谱仪。 顺序法通过扫描法逐个测量元素，因此测量速度通常比同时法慢，适用于科学研究和多用途工作。 同时型适用于成分相对固定，对测量速度和批量样品分析要求较高的场合。 顺序型和同时型光谱仪的组合结合了两者的优点。

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