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某镀层测厚仪操作规程!

某镀层测厚仪操作规程!

【概要描述】镀层测厚仪是通过样品反射的第二次X射线的强度,将X射线照射在样品上。 测量镀层等金属薄膜的厚度,因为它不接触样品,照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。 同时,测量也可以在10秒到几分钟内完成。

某镀层测厚仪操作规程!

【概要描述】镀层测厚仪是通过样品反射的第二次X射线的强度,将X射线照射在样品上。 测量镀层等金属薄膜的厚度,因为它不接触样品,照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。 同时,测量也可以在10秒到几分钟内完成。

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镀层测厚仪是通过样品反射的第二次X射线的强度,将X射线照射在样品上。 测量镀层等金属薄膜的厚度,因为它不接触样品,照射在样品上的X射线只有45-75W左右,所以不会对样品造成损坏。 同时,测量也可以在10秒到几分钟内完成。

一、镀层测厚仪的操作规程!

1.开始

打开镀层测厚仪主机、电脑、显示器和打印机的电源。

2.进入程序

电脑启动后,会自动弹出SmarkLink KP程序的密码输入提示框,需要输入正确的密码; 如果退出程序,需要从头登录,需要双击电脑桌面上的SmarkLink FP图标,会出现同样的对话框。

3. 升压

机器完成初始化后,图像下方灰色的GO键变为绿色,即boosting工作完成。

4.热机

如果关机状态超过 3 小时,则必须进行以下操作。 点击“计数”,将Spect Cal放入仪器中,将Ag点移动到十字线中心,聚焦激光,设置测量时间为6秒,重复测量30-50次,点击绿色的Go 按钮 之后,等待自动连续测量完成。

5. 波谱校准

如果超过3小时没有关机或关机,则需要重新启动,主要是让仪器进行自我补偿调整。 首先点击任务栏中的“Spectrum Calibration”图标,然后将光谱校准表“Spect Cal”放入仪器中,点击Go按钮进行测量。 当红色的 STOP 按钮变成绿色的 GO 按钮时,将纯 Ag 点移动到十字线的中心,聚焦激光,再次单击 Go 按钮进行测量。 完成后会出现“光谱校准成功”的对话框,点击“确定”。 如果不成功,检查是不是错了,或者是中途停了,或者谱图被移动了,完好的需要重新进行光谱校准。

6. 测量

在测量界面,点击顶部的“Measure 123”,点击右侧黄色文件夹,选择 镀层对应的合适文件,打开文件,放入待测样品。 测量完成后,可以直接在右上角的显示框中看到结果。

7. 打印

点击上方任务栏“统计”下拉菜单中的“打印”选项,选择打印“全部”或“单个数据”,退出后点击“确认”。

8. 关机

先在样品台取出样品,退出程序,然后关闭显示器、主机、打印机等。

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我们的设备可以做哪些测试?

可做ROHS检测、各种材料的全元素分析和测金属的镀层厚度。

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