很多ROHS仪器用户可能不知道这个仪器是基于什么应用原理来完成操作的。 这就是我们今天要给大家介绍的X射线荧光光谱仪用于rohs检测的优点。  

X射线荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和检测系统组成。X 射线管产生激发被测样品的入射 X 射线（初级 X 射线）。 被激发样品中的每一种元素都发出二次X射线，不同元素发出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。 检测系统测量发射的这些二次 X 射线的能量和数量。然后，仪器软件将检测系统采集的信息转化为样品中各种元素的种类和含量。 在X射线荧光光谱仪的技术原理中，我们有更多关于X射线荧光光谱仪如何完成ROHS控制元素的分析。 

 一、分析速度快

测量时间与测量精度有关，但一般很短，60～200分钟即可测量样品中的Pb、Cd、Cr、Hg、Br、Cl及待测元素。

二、X射线荧光光谱与样品的化学结合状态无关

X射线荧光光谱与样品的化学键合状态无关，与固体、粉末、液体、结晶、无定形等物质的状态基本无关。  （即使将气体密封在容器中也可以进行分析。）但是，在高分辨率的精密测量中，可以观察到波长变化等现象。 尤其是在超软X射线范围内，这种效果更为明显。 波长的变化用于确定化学势。

三、化学状​​态的变化

无损分析在测量过程中不会引起化学状态的变化，也不会发生样品散射。 同一个样品可以重复测量，结果具有重现性。

四、物理分析法

X射线荧光分析是一种物理分析方法，因此它还可以分析属于同一族的元素的化学性质。

五、分析精度高

样品制备简单，可分析固体、粉末和液体样品。  XRF-X射线荧光光谱仪的缺点只有三个，它们是：

1、很难进行绝对分析，所以定量分析需要标准样品。

2、对轻元素的敏感性较低。

3、易受相互元素干扰和叠加的影响。