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  • 产品名称 XRF检测设备

IDP-7300是一款全新开发研制的集镀层测厚、RoHS指令/卤素指令/八大重金属指令一体的X荧光光谱仪。集准确、快速、无损、直观及环保五大特点,采用分析仪器行业最先进的极速探测器技术(SDD)。采用德国专业技术,可实现图像联动控制,多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便,全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

一、技术指标

型号:

IDP-7300

测试对像:

粉末、固体、液体

元素分析范围:

钠(Na)-铀(U)

同时最多可测元素:

36种

含量分析范围:

1ppm~99.99%

工作稳定性:

总荧光强度为0.1%

测试时间:

60~200秒

探测器分辨率:

127eV±5

多道分析器:

4096道

进口高端DSP数字信号处理芯片

64位处理

X射线光管:

功率50W,靶材可选Ag、Rh、W、Mo

高压电源:

电压范围0~50KV,稳定度每小时小于0.05%

最低检出限:

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

探测系统:

全自动对点探测系统鼠标点击,自动对点

升降软件系统:

电控全自动机盖升降软件独立控制

外型尺寸:

720mm×560mm×450mm(不包括支脚)

测量仓:

400mm×280mm×100mm

重量:

60Kg

镀层技术参数:

可测镀层数:

最多可达5层

镀层种类:

单金属镀层、合金镀层

镀层识别精度:

分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。

厚度测试范围:

轻金属(如:Ti、Cr等)0.01~50um

中金属(如:Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等)0.01~30um

重金属(如:Pt、Au、Pb等)0.005~15um

 

标准配置

 

 

配置

数量

单位

仪器主机部分主要配置

1

1. SDD硅漂移探测器(进口) AMPTEK

1

2.低功率X光管

1

3. 高压电源

1

4. 2048道数字多道分析器

1

5. 高精密CCD

1

6. 滤光片组

5

7. 准直器:8种准直器自动切换

6

 

   

 

主要性能优势

采用极速探测器技术

分辨率最低至125eV

探测信噪比更强,检出限更低

采用行业最先进的数字多道技术

采用大功率X光管及先进的准直滤光系统

光闸系统,提高测试效率与测试精度

精密的定位系统,更清晰的显示测试点

多点测试,多点连续测试超小样品检测

人性化的设计:更安全、更快捷:预约预热:预约关机。

 

优点:

1、可测ROHS及金属镀层,ROHS/无卤元素分析可以一次性测试完成,无需分开测试。

2、核心配件均采用进口件

3、仪器测试过程中无意开盖,仪器装有开盖切断开关,可预防辐身安全。

4、每年进行仪器免费检测调校

5、X光管设计使用寿命为2万小时.德谱独有的延长光管使用寿命的技术:                         

  (1)、光管自动防老化功能。

(2)、自动跟进不同材质选择不同的光管电流。

(3)、强大的散热系统保证光管正常的工作条件;

 

售后服务

1、免费提供2-3个工作日ROHS培训及仪器操作使用。

2、软件终身免费升级,提供最有效的技术服务,7×24小时电话响应,在接到用户故障信息后4小时内响应,24-72小时内派人上门维修和排除故障

3、安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。

 

4、仪器终身维护,每年将定期提供免费检查,维护保养。