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德谱成功参加北京分析仪器展览会

德谱成功参加北京分析仪器展览会

  • 分类:企业动态
  • 发布时间:2013-10-29 02:52
  • 访问量:

【概要描述】2013年10月23日第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA)在北京展览馆隆重开幕。作为分析测试行业内两年一度的盛宴,本届展会吸引了来自全球的三百多家主要仪器厂商参加,展览场地面积近2万平方米,展出了当今世界各著名分析仪器厂商近年来研制、生产的新型分析仪器、生命科学仪器、环保分析仪器、实验室设备、食品分析仪器、化学试剂等,同时举办了分析仪器应用技术报告会、技术交流会和中日科学仪器发展论坛等相关活动。   

我德谱公司在本次展会上展出了德谱Dx系统的全部产品,其中包括两款新品,Dx-525M合金成分分析仪和Dx-380镀层测厚仪。这两款仪器均搭载德谱独创的VisualFp基本参数法分析软件,可不用标准样品标定,即可对客户样品基材成分分析和镀层膜厚测试。在研发之初就有明显的客户指向,在材料分析应用和镀层测厚技术方案应对上具有国内领先的突出优势;分别在不同应用领域集合了目前最先进的技术手段,得到众多观众的高度关注。

德谱成功参加北京分析仪器展览会

【概要描述】2013年10月23日第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA)在北京展览馆隆重开幕。作为分析测试行业内两年一度的盛宴,本届展会吸引了来自全球的三百多家主要仪器厂商参加,展览场地面积近2万平方米,展出了当今世界各著名分析仪器厂商近年来研制、生产的新型分析仪器、生命科学仪器、环保分析仪器、实验室设备、食品分析仪器、化学试剂等,同时举办了分析仪器应用技术报告会、技术交流会和中日科学仪器发展论坛等相关活动。   

我德谱公司在本次展会上展出了德谱Dx系统的全部产品,其中包括两款新品,Dx-525M合金成分分析仪和Dx-380镀层测厚仪。这两款仪器均搭载德谱独创的VisualFp基本参数法分析软件,可不用标准样品标定,即可对客户样品基材成分分析和镀层膜厚测试。在研发之初就有明显的客户指向,在材料分析应用和镀层测厚技术方案应对上具有国内领先的突出优势;分别在不同应用领域集合了目前最先进的技术手段,得到众多观众的高度关注。

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2013年10月23日第十五届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA)在北京展览馆隆重开幕。作为分析测试行业内两年一度的盛宴,本届展会吸引了来自全球的三百多家主要仪器厂商参加,展览场地面积近2万平方米,展出了当今世界各著名分析仪器厂商近年来研制、生产的新型分析仪器、生命科学仪器、环保分析仪器、实验室设备、食品分析仪器、化学试剂等,同时举办了分析仪器应用技术报告会、技术交流会和中日科学仪器发展论坛等相关活动。   

我德谱公司在本次展会上展出了德谱Dx系统的全部产品,其中包括两款新品,Dx-525M合金成分分析仪和Dx-380镀层测厚仪。这两款仪器均搭载德谱独创的VisualFp基本参数法分析软件,可不用标准样品标定,即可对客户样品基材成分分析和镀层膜厚测试。在研发之初就有明显的客户指向,在材料分析应用和镀层测厚技术方案应对上具有国内领先的突出优势;分别在不同应用领域集合了目前最先进的技术手段,得到众多观众的高度关注。

 

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